その他講演会・セミナー

ウェーハプロセス専門委員会主催「人工物メトリクスの世界」

対象

ウェーハプロセス専門委員会 / 技術部会とその直轄４専門委員会メンバ / ウェーハプロセス専門委員会参加企業の関係者
SEAJ会員企業⇒https://www.seaj.or.jp/about/company.html
SEAJ組織図⇒https://www.seaj.or.jp/about/about.html

主旨

人工物メトリクスは、半導体製造装置の信頼性向上とトレーサビリティ確保に革新的なソリューションをもたらす可能性を秘めています。本講演を通じて、この技術の重要性と将来性を理解し、多くの企業が人工物メトリクスを導入することで、より高品質な半導体デバイス製造に貢献することを目指します。
講演後に、ラベルを貼ることのできない部材に対する人工物メトリクスの適用可能性について、参加者全員で活発な議論を展開したいと考えております。

開催日程・場所

講師

松本　勉　氏（MATSUMOTO,Tsutomu）

国立研究開発法人　産業技術総合研究所　フェロー
サイバーフィジカルセキュリティ研究センター　研究センター長
横浜国立大学　上席特別教授

内容

半導体製造装置の高度化に伴い、装置内の部品の信頼性とトレーサビリティ確保がますます重要となっています。従来のラベルを用いた管理方法では、微細な部品や過酷な環境下での使用に限界があり、新たな手法が求められています。
本公演では、近年注目を集めている「人工物メトリクス」という技術に着目し、半導体製造装置産業への応用可能性を探ります。人工物メトリクスは、個々の物体に固有の物理的な特徴を数値化し、そのパターンを比較することで、個体識別や真贋判定を行う技術です。

1.人工物メトリクスとは？
　　基本的な概念と原理
　　従来の識別方法との比較　
　　半導体製造における課題と人工物メトリクスの可能性
2.半導体製造装置への応用事例
　　部品レベルでの個体識別とトレーサビリティ
　　サプライチェーンにおける偽造品対策
3.具体的な活用事例と成功事例
　　国内外の事例紹介
　　実証実験の結果
4.今後の展望と課題
　　人工物メトリクス導入のメリットとデメリット
　　技術的な課題と今後の研究開発の方向性
　　産業への波及効果

内容は変更の可能性がございます。ご了承ください。

タイムテーブル

2，3日前頃、頁トップに「ウェーハプロセス専門委員会講演会241125URL.pdf」を掲載し、開封PWを、いただいたメールアドレスに配信します。接続URLをご確認いただけます。

■事前準備■　　

Teamsに接続する為に、以下について準備をお願いします。　
インターネットに接続できるPC
音声デバイス（マイク・スピーカー）

◇サポートされているブラウザ
Microsoft Edge　Chrome　他
Teams講演会で利用するPCの環境を事前にご確認の上、ご利用ください。

あらかじめアプリをインストールされますと、スムーズにゲストとして利用をすることができます。インストールをせずに、ブラウザでのご参加も可能です。

また、音声/カメラデバイスの設定をテストしていただくことをお勧めいたします。

◇テスト通話を行う
テスト呼び出しを行う場合は、設定 Teams の上部にあるプロファイル画像の横にある [ など] を選択し、[設定> デバイス] を選択します。 [オーディオ デバイス] で [テスト通話を行う] を選択します。※詳細はMicrosoft Teamsのページへ

■当日の参加手順について■