「半導体製造装置用語集」「検査（test）」用語の見直し作業を終了しました。是非ご活用下さい。（61語⇒186語）
半導体製造装置用語集更新のお知らせ
SEAJ検査専門委員会では、「半導体製造装置用語集（←バナーボタンよりワンクリックでご覧いただけます）」を2017年度の活動を通して、「検査（test）」用語の見直し作業を組み込みました。
これまでの「1.テスタ」「2.プローブカード」の他に「3.プローバ」「4.ハンドラ」「5.その他」を新設いたしました。
その結果、↓カテゴリーの登録用語が3倍に増加しました。 是非ご活用下さい。
（61語⇒186語）
- テスタ
- プローブカード
- プローバ NEW
- ハンドラ NEW
- その他 NEW
※ 2012年から2016年までの、4つの検査専門委員会成果報告書より新語を抜粋しました。
お問い合わせ
担当：事務局 星野・後藤
TEL：03-3261-8262 / e-mail：info@seaj.or.jp