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TOP用語検索方法選択>技術分野検索:【検査(Test)】

検査(Test)

1.テスタ
DUTボード (Device Under Test Board)
EB Tester (Electron Beam Tester)
LVP (Laser Voltage Probe)
OBIC (Optical Beam Induced Current)
TDRタイミング測定手法 (Time Domain Reflection)
液晶法 (Liquid Crystal Analysis)
エミッション顕微鏡
Captureクロック
シェアード・リソース(Shared Resource)
縮退故障
同時測定効率 (Multi-site efficiency)
同時測定
同測
パーピンTGリソース (Per-pin TG Resource)
パターン圧縮器
ブリッジ故障
フルパーピン・リソース (Full Per-pin Resource)
ユニバーサル・スロット構造 (Universal Slot Architecture)
ΔIDDQ方式
IDDQ-Ratio方式
DPS
MCP
SiP
KGD
KTD
RTL
BOST
BIST
構造可変テスタ
外部ループバック
ゴールデンデバイス
エンファシス
RSDS (Reduced Swing Differential Signaling) / mini LVDS (Low Voltage Differential Signaling)
時間分解発光解析 (Time Resolved Photo Emission Microscope)
DALSあるいはRIL/SDL

2.プローブカード
プローブカード (Probe Card)
カンチレバー型 (Cantilever type)
バーチカル型 (Vertical type)
メンブレン型 (Memblane type)
同軸型 (Co-axial probe)
ブレード型 (Blade type)
オーバードライブ (Over drive)
スクラブ (Scrub)
L.O.C. (Lead On Chip)
ペリフェラル (Peripheral)
エリア・アレイ (Area array)
MEMS型プローブ (MEMS type probe tip)
インターポーザ (Interposer)
スペーストランスフォーマ (Space transformer)



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