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 検査専門委員会 技術講演会   

   「Make Chip Testing Available for Everyone

ICテストにおける新たなビジネスモデルの実践と挑戦」

 

 第6回検査専門委員会の定例会議では 活動テーマ 「IoT時代に向けた次世代検査技術動向の調査・研究」の一環として、IoT時代のテスティングサービスの最新動向について知見を得ることを目的とし、講師をお招きして、標記講演会を開催いたします。メンバー以外の方でもご興味のございます方は是非この機会をお役立て下さい。 


開催日程 開催場所

2016年10月13日(木)

15:00(受付14:50)〜17:00

一般社団法人 日本半導体製造装置協会
03-3261-8262
島津製作所 東京支社 地図

講演者: 木村 学様

  Cloud Testing Service株式会社 代表取締役社長 

        兼   株式会社アドバンテスト CTS事業部長 

概要 : 弊社Cloud Testing Service株式会社(以下CTS)は2012年9月の開業以来、“世界中、誰でも何処でもICテスト〜Make Chip Testing Available for Everyone“をミッションとし、来るべきIoT社会の安心・安全実現の一端を担うべく日々活動しております。今回は、実践中のビジネスモデルの概要と、新たな挑戦領域「IoT時代の分散型品質保証・担保システムの構築」につき、事例と成功・失敗談を取り混ぜながら話をさせて頂きます。

受講対象者:SEAJ会員・SEAJ関係者

検査専門委員以外の方にもご参加いただけるようにいたしました。 ご関係者はもちろん、周りにご興味のある方がいらっしゃいましたら、ご紹介いただけますと幸甚に存じます。

参加費用 : 無料

お申込方法 : 件名を「技術講演会10/13」として、ご連絡先を記載の上、 info@seaj.or.jpまでお送り願います。(要 参加者のe-mailアドレス・電話番号)

お申込締切

定員(40名) 10/6(木)までにお申込下さい。10/7(金)以降はお電話にてお問い合わせ下さい。

担当 事務局 今井・後藤 info@seaj.or.jp  03-3261-8262





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